芯片老化測試
提供高溫應力所需的高壓/大電流，加速芯片潛在缺陷的早期失效；
驅動容性/感性負載，穩定驅動這些重負載，保證信號完整性；
產生高頻動態應力信號，支持寬頻帶、快速邊沿的時鐘或數據信號；
多通道獨立輸出，靈活配置，提高并行測試效率；
集成保護與監測功能，防止老化過程中芯片短路或異常功耗損壞設備；
降低系統復雜度，縮短開發周期。
相關應用詞：
電流傳感器頻響測試
提升驅動能力，確保器件完全導通或關斷；
保證信號保真度，避免波形畸變影響參數測量；
實現高電壓/大電流測試，滿足擊穿電壓、飽和壓降、導通電阻等極限參數測試需求；
增強動態響應，準確捕獲器件在開關過程中的電壓/電流波形；
隔離與保護被測器件，可防止測試異常時損壞昂貴的待測芯片或探針臺；
簡化測試系統搭建，降低系統復雜度與調試時間。
相關應用詞： 電流傳感器│ 傳感器│